Главная страница
  Продукция
  Металлоконструкции
  Новые разработки
  Конструкторское бюро
  Сборочно-сварочные приспособления
  Контакты
  Партнеры
  Карта сайта
  Новости
  Опоры регулируемые винтовые
   
 

02.03.2020 Успешно спроектированы и изготовлены специальные сварочно-сборочные приспособления для ООО "ПК "Транспортные системы" г. Тверь

06.08.2019 Изготовлены и отгружены станочные угольники для нужд Тверского экскаваторного завода RM-Terex

13.08.2018 Изготовлена очередная партия сборочно-сварочной оснастки для завода экскаваторов HITACHI г. Тверь

 

Оптический квантометр

» Главная страница » Новые разработки » Прогрессивные технологические процессы и оборудование, разработанное и внедренное ВНИИТМАШ » Оптический квантометр

ОАО "ВНИИТМАШ" предлагает:

ОПТИЧЕСКИЙ КВАНТОМЕТР

НАЗНАЧЕНИЕ

Предназначен для быстрой и точной регистрации и измерения концентрации компонентов по глубине поверхностно-упрочненного слоя непосредственно на изделии с автоматической записью самописцем, дисплеем и принтером концентрации компонентоа - в процентах, глубины слоя - в микронах. При необходимости используется как обычный десятиканальный квантометр для экспресс-контроля химсостава металлов.

ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

Квантометр может применяться для контроля:

- Распределения углерода по глубине цементованных и нитроцементованных слоев, общей и эффективной глубины слоя;

- Распределения элементов: хрома, никеля, молибдена, бора, алюминия, вольфрама, титана, магния и других по глубине слоев, упрочненных одно- или многокомпонентным легированием этими элементами;

- Химической однородности поверхностного слоя (линейный микроанализ).

ТЕХНИЧЕСКАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА

ПРИНЦИП ДЕЙСТВИЯ

Основан на сканировании анализируемого участка изделия плазмой микроискры с точным электронным управлением амплитудой, частотой и временем разряда, последующей фотоэлектрической регистрацией оптического спектра излучения с преобразованием отсчетов в величины концентраций компонентов в процентах и величины углубления в слой в микрометрах.

Ориентировочное время получения полной кривой распределения концентрации элемента по глубине слоя не превышает 10...15 мин, время анализа поверхностной концентрации - 0,5...2 мин.

Изделия подготавливаются к анализу заточкой на абразивном круге или наждачной бумагой на косой или ступенчатый срез поверхностного слоя или параллельным снятием поверхностных слоев абразивной заточкой.

Управление работой узлов установки - автоматическое или ручное по выбору оператора.

ДОСТОИНСТВА

Применение квантометра дает возможность:

- Определить после химико-термической обработки (ХТО) непосредственно на детали степень и глубину насыщения ее поверхности упрочняющими компонентами;

- Повысить производительность ХТО за счет точного оперативного определения оптимальной продолжительности цикла насыщения углеродом стальных изделий;

- Уменьшить брак за счет оперативной корректировки параметров процесса ХТО;

- Уменьшить число деталей, разрушаемых до или после ХТО для контроля металлографическим методом, то есть общие трудозатраты по изготовлению;

- Использовать квантометр как датчик обратной связи для корректировки параметров устройств автоматического управления атмосферой и режимом ХТО с применением микропроцессорной техники;

- Реализовать на базе конструкции квантометра автоматические датчики измерения прямым методом углеродного и азотного потенциала по ходу техпроцесса ХТО.

 

Назад   Наверх

 
 
 
  Обслуживание сайта: улучшаем.рф